カリキュラムシート
分類番号 A303-016-A
| 訓練分野 | 電気・電子系 |
|---|---|
| 訓練コース | ＩＣ活用時のトラブル対策技術 |
| 訓練対象者 | 電子回路・制御機器の設計・開発業務に従事する技能・技術者等であって、指導的・中核的な役割を担う者又はその候補者 |
| 訓練目標 | 電子装置等の新たな品質及び製品の創造をめざして、高付加価値化に向けたＩＣの破壊モード対策と誤動作対策実習を通して、製品開発に必要不可欠な半導体ＩＣ使用時の回路トラブル対策技術についての知識を習得する。 |
| 教科の細目 | 内容 | 訓練時間（H） | うち実習・ まとめ（H） |
|---|---|---|---|
| １．コースの概要及び留意事項 | （１）訓練コースの概要説明 （２）受講者が有する専門的能力の確認 （３）安全上の留意事項 |
0.5 | |
| ２．ＩＣとトラブル概略 | （１）ＩＣと使用時におけるトラブルの概略 （２）不良解析の概略 |
0.5 | |
| ３．ＩＣの破壊モードとその対策 | （１）過負荷による破壊 イ．過負荷によるトラブル事例演習、対策技術と確認試験 （２）静電破壊（ＥＳＤ）による破壊 イ．ＥＳＤによるトラブル事例演習、対策技術と確認試験 （３）パルス入力（ＥＯＳ）による破壊 イ．ＥＯＳによるトラブル事例演習、対策技術と確認試験 （４）熱破壊・機械的破壊 イ．熱破壊・機械的によるトラブル事例演習、対策技術と確認試験 |
3.5 | 2.5 |
| ４．ＩＣの誤動作とその対策 | （１）ＥＭＣ、発振による誤動作 イ．ＥＭＣ、発振によるトラブル事例演習、対策技術と確認試験 （２）熱暴走による誤動作 イ．熱暴走によるトラブル事例演習、対策技術と確認試験 （３）ノイズ誤動作、ＥＭＣ妨害による誤動作 イ．ノイズ誤動作、ＥＭＣ妨害によるトラブル事例演習、対策技術と 確認試験 （４）電源系による誤動作 イ．瞬時容量不足によるトラブル事例演習、対策技術と確認試験 ロ．電源ノイズ、リップルによるトラブル事例演習、対策技術と確認試験 （５）論理誤動作 イ．論理誤動作によるトラブル事例演習、対策技術と確認試験 |
5 | 3 |
| ５．ＩＣの寿命 | （１）寿命の要因、寿命算定 （２）定格設計、Ｄｅ－ｒａｔｉｎｇ確認、加速試験 |
2 | 1 |
| ６．まとめ | （１）全体的な講評及び確認・評価 |
0.5 | 0.5 |
| 訓練時間合計 | 12 | 7 |
| 使用器具等 | パソコン、回路計算ツール、半導体部品 |
|---|---|
| 養成する能力 | 新たな品質の創造又は製品を生み出すことができる能力 |
| 改訂日 | 2020.09 |