カリキュラムモデル
分類番号 M512-330-3
| 訓練分野 | 機械系（M） |
|---|---|
| 訓練コース | 分析評価のためのＸ線解析技術 |
| 訓練対象者 | 製品開発または製品検査に従事し、中核的な役割を担う者 |
| 訓練目標 | Ｘ線回折装置を用いて各種材料の定性分析や定量分析等の分析評価を製品開発または検査に応用する。 |
| 教科の細目 | 内容 | 訓練時間（H） |
|---|---|---|
| １．Ｘ線の知識 | （１）Ｘ線の性質と吸収・散乱 （２）結晶構造 |
6 |
| ２．結晶によるＸ線の回折 | （１）多結晶によるＸ線の回折 （２）単結晶によるＸ線の回折 |
6 |
| ３．測定法 | （１）Ｘ線回折装置の操作 （２）資料の作成方法 （３）単純な構造のディフクラメータ図形の測定とその同定 |
6 |
| ４．応用測定 | （１）極点図形測定装置の操作 （２）極点図の測定とその解析 （３）分析及び分析評価の応用技術 |
5 |
| ５.統括討議及び評価 | （１）質疑応答 （２）訓練コース内容のまとめ （３）講評・評価 |
1 |
| 訓練時間合計 | 24 |
| 使用器具等 | Ｘ線回折装置、極点図形測定装置他 |
|---|